Drive

UT110-UFD1

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UT110-UFD1

  • 采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND闪存,提升可靠度
  • 全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
  • 闪存坏区管理
  • 4K Page Mapping
  • 断电管理
  • S.M.A.R.T.
  • Hyper Cache缓存技术
  • Smart Read Refresh™

高速 USB 传输性能.工业级可靠性 ─ 探索 UT110-UFD1

 

Apacer UT110-UFD1 是专为工业与嵌入式系统打造的新一代嵌入式 USB 闪存存储设备。支持 USB 3.2 Gen1 SuperSpeed 规范,提供最高 5 Gb/s 传输带宽与最高 265 MB/s 顺序读取性能,并向下兼容 USB 2.0 与 USB 1.1。采用 3D NAND Flash,相较于传统 2D NAND 具备更佳的电源效率,并可与标准 Embedded USB 接口无缝整合。

 

UT110-UFD1 通过智能化闪存管理机制与坚固的硬件设计,提供长期稳定的系统运行。其精巧的金属外壳可有效提升产品耐用性,并强化抗机械冲击、环境耐受性及 ESD 静电防护 能力。

 

升级嵌入式存储效能,选择 Apacer UT110-UFD1 ─ 专为高速传输、高效率与稳定运行打造的高性能 USB 闪存存储设备。

  • SuperSpeed USB 接口: 支持最高 5 Gb/s 传输带宽与 265 MB/s 顺序读取性能。
  • LDPC ECC 错误校正技术: 提升数据准确性,延长 Flash 使用寿命。
  • 工业级耐用设计: 精巧金属外壳,提供更优异的机械防护、环境耐受性及 ESD 静电防护能力。


搭载多项智能技术,全面提升耐用性、数据完整性与长期可靠性

  • 智能闪存管理:  整合 Wear Leveling、Bad Block Management 与 S.M.A.R.T.,实时监控 NAND 使用效率并延长使用寿命。
  • 数据保护机制: Power Failure Management 有效降低突发断电造成数据损坏的风险。
  • 性能优化技术: 结合 Hyper Cache、Smart Read Refresh、 Page Mapping 与硬件 ECC,确保产品在整个生命周期内维持稳定性能。

 

结合 USB 3.2 Gen1 高速传输性能、智能闪存管理 与 工业级耐用设计,Apacer UT110-UFD1 为工业自动化、嵌入式计算、影像系统及企业应用提供可靠且稳定的嵌入式存储解决方案。

规格表
  • 型号
    UT110-UFD1
  • 介面
    USB 3.2 Gen1
  • 接口
    USB Type-A
  • 板型
    USB Flash Drive
  • NAND 颗粒
    3D TLC
  • 容量
    64GB~256GB
  • 外置DRAM
    No
  • 读取速度(MB/sec)
    Up to 265
  • 写入速度(MB/sec)
    Up to 190
  • ECC纠错功能
    Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
  • IOPS (4K 随机写入)
    1000
  • 标准作业温度(°C)
    0 ~ 70
  • 放置温度(°C)
    -55 ~ +100
  • 外壳
    Yes
  • 冲击耐力
    Operation: 50G/11ms
    (compliant with MIL-STD-202G)
    Non-operation: 1500G/0.5ms
    (compliant with MIL-STD-883K)
  • 震动耐力
    Operation: 7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
    (compliant with MIL-STD-810G)
    Non-operation: 4.02(Grms), 15~2000(Hz)/random
    (compliant with MIL-STD-810G)
  • 电压
    5.0 V ± 5%
  • 用电量
    Active mode: 215 mA; Idle mode: 80 mA
  • 尺寸 (L x W x H )
    46.85 x 17.20 x 7.70 (mm)
  • MTBF (小时)
    >3,000,000

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