UT110-UFD1
Drive
UT110-UFD1
- 采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND闪存,提升可靠度
- 全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
- 闪存坏区管理
- 4K Page Mapping
- 断电管理
- S.M.A.R.T.
- Hyper Cache缓存技术
- Smart Read Refresh™
高速 USB 传输性能.工业级可靠性 ─ 探索 UT110-UFD1
Apacer UT110-UFD1 是专为工业与嵌入式系统打造的新一代嵌入式 USB 闪存存储设备。支持 USB 3.2 Gen1 SuperSpeed 规范,提供最高 5 Gb/s 传输带宽与最高 265 MB/s 顺序读取性能,并向下兼容 USB 2.0 与 USB 1.1。采用 3D NAND Flash,相较于传统 2D NAND 具备更佳的电源效率,并可与标准 Embedded USB 接口无缝整合。
UT110-UFD1 通过智能化闪存管理机制与坚固的硬件设计,提供长期稳定的系统运行。其精巧的金属外壳可有效提升产品耐用性,并强化抗机械冲击、环境耐受性及 ESD 静电防护 能力。
升级嵌入式存储效能,选择 Apacer UT110-UFD1 ─ 专为高速传输、高效率与稳定运行打造的高性能 USB 闪存存储设备。
- SuperSpeed USB 接口: 支持最高 5 Gb/s 传输带宽与 265 MB/s 顺序读取性能。
- LDPC ECC 错误校正技术: 提升数据准确性,延长 Flash 使用寿命。
- 工业级耐用设计: 精巧金属外壳,提供更优异的机械防护、环境耐受性及 ESD 静电防护能力。
搭载多项智能技术,全面提升耐用性、数据完整性与长期可靠性
- 智能闪存管理: 整合 Wear Leveling、Bad Block Management 与 S.M.A.R.T.,实时监控 NAND 使用效率并延长使用寿命。
- 数据保护机制: Power Failure Management 有效降低突发断电造成数据损坏的风险。
- 性能优化技术: 结合 Hyper Cache、Smart Read Refresh、 Page Mapping 与硬件 ECC,确保产品在整个生命周期内维持稳定性能。
结合 USB 3.2 Gen1 高速传输性能、智能闪存管理 与 工业级耐用设计,Apacer UT110-UFD1 为工业自动化、嵌入式计算、影像系统及企业应用提供可靠且稳定的嵌入式存储解决方案。
规格表
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型号UT110-UFD1
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介面USB 3.2 Gen1
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接口USB Type-A
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板型USB Flash Drive
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NAND 颗粒3D TLC
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容量64GB~256GB
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外置DRAMNo
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读取速度(MB/sec)Up to 265
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写入速度(MB/sec)Up to 190
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ECC纠错功能Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
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IOPS (4K 随机写入)1000
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标准作业温度(°C)0 ~ 70
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放置温度(°C)-55 ~ +100
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外壳Yes
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冲击耐力Operation: 50G/11ms
(compliant with MIL-STD-202G)
Non-operation: 1500G/0.5ms
(compliant with MIL-STD-883K) -
震动耐力Operation: 7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
(compliant with MIL-STD-810G)
Non-operation: 4.02(Grms), 15~2000(Hz)/random
(compliant with MIL-STD-810G) -
电压5.0 V ± 5%
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用电量Active mode: 215 mA; Idle mode: 80 mA
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尺寸 (L x W x H )46.85 x 17.20 x 7.70 (mm)
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MTBF (小时)>3,000,000